光(guang)纖接(jie)入技(ji)術與其他接(jie)入技(ji)術（如銅雙絞線、同軸電纜）相比(bi)，有很大的(de)(de)(de)優勢(shi)，包(bao)括：可(ke)用帶寬大、傳輸(shu)(shu)質量(liang)好、傳輸(shu)(shu)距離長、抗干擾能力強、網絡可(ke)靠性高、節約(yue)管道(dao)資(zi)源等，而且不會相互干擾，即(ji)使是同一根光(guang)纜中的(de)(de)(de)光(guang)纖。但一條完整的(de)(de)(de)光(guang)纖鏈路的(de)(de)(de)性能不僅取決(jue)(jue)于光(guang)纖本身(shen)的(de)(de)(de)質量(liang)，還取決(jue)(jue)于連接(jie)頭的(de)(de)(de)質量(liang)、施工工藝和(he)現(xian)(xian)場環境，所(suo)以光(guang)纖鏈路的(de)(de)(de)現(xian)(xian)場測試至關重(zhong)要。

測(ce)試方案功能：

(1)光纖鏈(lian)路(lu)(lu)損(sun)耗(hao)預(yu)算(suan)：光纖鏈(lian)路(lu)(lu)損(sun)耗(hao)預(yu)算(suan)是網絡和應用中允許的最大信號損(sun)失量，這個值是根(gen)(gen)據網絡實際(ji)情況和國際(ji)標(biao)準規定的損(sun)失量計(ji)算(suan)出(chu)來(lai)的。參見應用標(biao)準或根(gen)(gen)據一條完整的光纖鏈(lian)路(lu)(lu)包(bao)括光纖、連接(jie)器和熔接(jie)點計(ji)算(suan)得(de)出(chu)。如單模光纖鏈(lian)路(lu)(lu)用于(yu)1000 BASE-LX，它就(jiu)要求：損(sun)耗(hao)< 4.7dB，長度(du) < 5km。

(2)光(guang)鏈路(lu)損耗測試：就是用光(guang)源和光(guang)功率計(ji)進(jin)行(xing)衰(shuai)減測試。衰(shuai)減是光(guang)纖鏈路(lu)的一個重要的傳(chuan)輸參數,它的單位是分(fen)貝(dB)。衰(shuai)減越大(da)，光(guang)信號傳(chuan)輸距離就越短。

(3)通(tong)過(guo)/失敗的(de)判(pan)定：通(tong)過(guo)前面的(de)鏈路(lu)損耗(hao)的(de)預(yu)算(suan)和(he)測試(shi)(shi)，當測試(shi)(shi)出的(de)損耗(hao)值(zhi)(zhi)大于預(yu)算(suan)值(zhi)(zhi)時(shi)，則(ze)認為這條(tiao)鏈路(lu)光學上是不連(lian)通(tong)的(de)。這時(shi)候就需(xu)要(yao)OTDR來進行更(geng)深入的(de)故障定位，檢查(cha)出光纖(xian)鏈路(lu)損耗(hao)超(chao)過(guo)預(yu)算(suan)值(zhi)(zhi)的(de)原因，如在(zai)前方1000米處有個熔接(jie)(jie)點(dian)，該(gai)接(jie)(jie)點(dian)熔接(jie)(jie)質量很差，超(chao)過(guo)了(le)2dB。通(tong)過(guo)OTDR您(nin)可詳細地(di)定位到全(quan)部連(lian)接(jie)(jie)不好的(de)適配器、熔接(jie)(jie)點(dian)等，以及光纖(xian)的(de)斷(duan)點(dian)和(he)末端等。OTDR還可幫您(nin)進行文檔備案，為日后維護(hu)提供方便。 

(4)設備(bei)發(fa)送功(gong)率(lv)的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)：通(tong)過(guo)光(guang)(guang)(guang)功(gong)率(lv)計(ji)測(ce)(ce)試(shi)(shi)發(fa)射機輸出端(duan)口(kou)的(de)平(ping)均功(gong)率(lv)，檢查(cha)其(qi)是否滿足所要(yao)求的(de)指標(biao)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)時(shi)要(yao)將(jiang)光(guang)(guang)(guang)功(gong)率(lv)計(ji)設置在被測(ce)(ce)光(guang)(guang)(guang)波長上，待輸出功(gong)率(lv)穩定，從光(guang)(guang)(guang)功(gong)率(lv)計(ji)讀出平(ping)均發(fa)送功(gong)率(lv)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)時(shi)要(yao)注(zhu)意清潔設備(bei)和儀器的(de)光(guang)(guang)(guang)連接器及跳線等，并保證連接良好。并通(tong)過(guo)多次測(ce)(ce)試(shi)(shi)取平(ping)均值為準。

(5)設備接收靈(ling)敏度的(de)(de)測試：通過光功率計、光可變(bian)衰減器、誤碼(ma)儀(yi)或設備告警系(xi)統進行設備接收靈(ling)敏度的(de)(de)測試。